2024年07月18日 阅读 854 评论 0
复旦微电申请的晶圆芯片多路并测装置及方法专利简介
快速高效地排除各处异常测试通路的晶圆芯片
设计结构和原理
如何使用该装置进行多路并测
与现有技术相比的优点和独特之处
该专利的应用前景和市场潜力
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